一種光學(xué)鏡片折射率的無損測定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310013944.8 申請日 -
公開（公告）號 CN103926055A 公開（公告）日 2014-07-16
申請公布號 CN103926055A 申請公布日 2014-07-16
分類號 G01M11/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 姜冠祥;蔡留美;王飛;姜棟華;陸艷華 申請（專利權(quán)）人 上海彥科儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海天協(xié)和誠知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 張恒康
地址 200444 上海市寶山區(qū)市臺路243號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種光學(xué)鏡片折射率的無損測定方法，其特征在于包括以下步驟：a提供一能夠檢測光學(xué)鏡片光焦度的儀器，所述儀器是焦度計，或者焦距儀，b使用所述焦度計，或者焦距儀測量出一光學(xué)鏡片置于空氣環(huán)境下的光焦度Kv,1，c使用所述焦度計，或者焦距儀測量出用于步驟b中的同一光學(xué)鏡片置于折射率為n的液體環(huán)境下的光焦度Kv,n，d光學(xué)鏡片光焦度利用公式Kv,n/(u-n)=c1-c2，由此推導(dǎo)出光學(xué)鏡片的折射率計算公式u=(nKv,1-Kv,n)/(Kv,1-Kv,n)，其中：μ為光學(xué)鏡片的折射率。本發(fā)明的光學(xué)鏡片折射率的無損測定方法具有方法簡便、操作簡單、無損測定和精確測量出光學(xué)鏡片的折射率的優(yōu)點。