磁電系儀表的內(nèi)磁支架
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN91215939.1 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN2101875U | 公開(公告)日 | 1992-04-15 |
| 申請公布號 | CN2101875U | 申請公布日 | 1992-04-15 |
| 分類號 | G01R1/38;G01R5/02 | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 楊佳明 | 申請(專利權(quán))人 | 上海求精儀表廠 |
| 代理機構(gòu) | 上海市儀表電訊工業(yè)局專利事務(wù)室 | 代理人 | 顧錫文 |
| 地址 | 200040上海市靜安區(qū)長樂路1062號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種磁電系儀表的內(nèi)磁支架新結(jié)構(gòu),由于磁鋼的位置朝滿度方向順時針旋轉(zhuǎn)了一個角度,使磁通密度均勻分布的空氣隙中段相對應(yīng)于除零位附近的大部分標(biāo)度盤。因此,標(biāo)度盤獲得了良好的一致性。從而,使內(nèi)磁式儀表可采用印刷標(biāo)度盤替代手繪標(biāo)度盤,使笨重的外磁式儀表能采用性能較好的內(nèi)磁式測量機構(gòu)。 |





