缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111498951.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114266737A 公開（公告）日 2022-04-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114266737A 申請(qǐng)公布日 2022-04-01
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 李晨陽;陳想;羅斌;陳列;汪彪 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 阿里巴巴（中國(guó)）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京太合九思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉戈;孫明子
地址 310052浙江省杭州市濱江區(qū)長(zhǎng)河街道網(wǎng)商路699號(hào)4號(hào)樓5樓508室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括：獲取在多個(gè)光源方向下對(duì)被檢測(cè)物體進(jìn)行拍攝得到的多張第一圖像；對(duì)所述多張第一圖像進(jìn)行光度立體成像處理，得到被檢測(cè)物體對(duì)應(yīng)的第二圖像；將所述多張第一圖像輸入第一缺陷檢測(cè)模型，得到第一缺陷檢測(cè)結(jié)果；將第二圖像輸入第二缺陷檢測(cè)模型，得到第二缺陷檢測(cè)結(jié)果；根據(jù)第一缺陷檢測(cè)結(jié)果和第二缺陷檢測(cè)結(jié)果，確定被檢測(cè)物體的最終缺陷檢測(cè)結(jié)果。在本發(fā)明實(shí)施例提供的方案中，以可見光光源以及被檢測(cè)物體為電池為例，可以結(jié)合多光源方向下采集的多個(gè)可見光圖像以及光度立體圖像這兩種類型的圖像準(zhǔn)確地檢測(cè)出電池表面是否具有缺陷。