一種面向傳統(tǒng)中央電氣分配盒性能的檢測(cè)系統(tǒng)與方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011221427.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN112526398A 公開(kāi)（公告）日 2021-03-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN112526398A 申請(qǐng)公布日 2021-03-19
分類號(hào) G01R31/56(2020.01)I;G01R31/52(2020.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 楊光;杜國(guó)平;趙剛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 南京理學(xué)工程數(shù)據(jù)技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京源古知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 鄭宜梅
地址 210014江蘇省南京市秦淮區(qū)永豐大道8號(hào)軟件信息中心A座3樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種面向傳統(tǒng)中央電氣分配盒性能的檢測(cè)系統(tǒng)與方法，包括PC機(jī)、檢測(cè)電路板以及被檢電器盒；PC機(jī)內(nèi)置測(cè)試系統(tǒng)發(fā)送命令給檢測(cè)電路板；檢測(cè)電路板執(zhí)行相應(yīng)的動(dòng)作并將檢測(cè)結(jié)果反饋給PC機(jī)；檢測(cè)電路板包括中央處理器、高電平輸出電路、低電平輸出電路、負(fù)載輸入回路以及通訊回路；所述高電平輸出電路、低電平輸出電路、負(fù)載輸入回路、通訊回路均與中央處理器相連；被檢電器盒與檢測(cè)電路板通過(guò)線束相連。本發(fā)明的不僅可以進(jìn)行電器盒的檢測(cè)，同時(shí)還能夠?qū)ιa(chǎn)電器盒進(jìn)行生產(chǎn)流程控制。??