一種VCSEL測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023005973.4 申請日 -
公開（公告）號 CN214066470U 公開（公告）日 2021-08-27
申請公布號 CN214066470U 申請公布日 2021-08-27
分類號 G01M11/02（2006.01）I;B65G47/04（2006.01）I;B65G47/34（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王勝利;劉振輝 申請（專利權）人 矽電半導體設備（深圳）股份有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 518172廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣坑社區(qū)龍城工業(yè)園3號廠房三樓東區(qū)、五樓中西區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種VCSEL測試系統(tǒng)。一種VCSEL測試系統(tǒng)，包括，依次設置的，上料機，用于放置待測試的VCSEL元器件；遠場測試機，用于對VCSEL元器件進行遠場測試；發(fā)光角度測試機，用于對VCSEL元器件進行發(fā)光角度測試；下料機，用于放置測試后的VCSEL元器件；本領域技術人員能夠根據(jù)對VCSEL元器件測試要求選擇不同的機器組合，從而將遠場測試機和/發(fā)光角度測試機替換或增加其它測試設備，從而完成對VCSEL元器件的測試要求。