序列變異校驗方法和裝置、生產(chǎn)變異序列的方法和裝置及電子設(shè)備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201910202271.8 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN109935275B | 公開（公告）日 | 2021-09-07 |
| 申請公布號 | CN109935275B | 申請公布日 | 2021-09-07 |
| 分類號 | G16B20/20（2019.01）I;G16B5/00（2019.01）I;G16B50/00（2019.01）I | 分類 | 物理 |
| 發(fā)明人 | 周淼;荊瑞琳;杜洋;李大為;玄兆伶;王海良;肖飛 | 申請（專利權(quán)）人 | 安諾優(yōu)達基因科技（北京）有限公司 |
| 代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100176北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)科創(chuàng)六街88號院8號樓2單元101室、201室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 公開了一種序列變異校驗方法、生成變異序列的方法、序列變異校正裝置、生成變異序列的裝置和電子設(shè)備。該序列變異校驗方法包括：獲取原始序列；獲取變異信息；獲取已變異的待校驗序列；以及，基于所述原始序列和所述變異信息校驗所述待校驗序列以確定所述待校驗序列的變異是否正確。這樣，增加了變異模擬過程的可靠性。 |
