芯片測(cè)試方法、系統(tǒng)及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110267466.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113203935A 公開(kāi)（公告）日 2021-08-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN113203935A 申請(qǐng)公布日 2021-08-03
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 梁小江;連光;陸鉞;蒲莉娟 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江西創(chuàng)成微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市君之泉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 呂戰(zhàn)竹
地址 343000江西省吉安市井岡山經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)火炬大道192號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種芯片測(cè)試方法、系統(tǒng)及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，系統(tǒng)包括上位機(jī)和測(cè)試板，測(cè)試板上搭載有基礎(chǔ)芯片；方法包括：建立基礎(chǔ)芯片與上位機(jī)之間的通信連接，并向基礎(chǔ)芯片下載預(yù)定的功能程序，形成待測(cè)芯片；上位機(jī)將從內(nèi)核支持文件庫(kù)和測(cè)試驗(yàn)證程序庫(kù)中選擇配置的內(nèi)核支持文件和測(cè)試驗(yàn)證程序，添加到固有程序模塊，形成與待測(cè)芯片對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序下發(fā)到待測(cè)芯片，并在接收到配置參數(shù)時(shí)，將配置參數(shù)生成為測(cè)試用例；待測(cè)芯片驅(qū)動(dòng)測(cè)試程序和功能程序運(yùn)行，并根據(jù)上位機(jī)下發(fā)的測(cè)試用例，啟動(dòng)測(cè)試程序內(nèi)測(cè)試驗(yàn)證程序的測(cè)試任務(wù)，對(duì)待測(cè)芯片運(yùn)行功能程序?qū)崿F(xiàn)的功能進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明提高了測(cè)試代碼的生成效率，有利于快速實(shí)現(xiàn)芯片設(shè)計(jì)的完整性驗(yàn)證。