一種檢測光學(xué)系統(tǒng)任意波長光學(xué)參數(shù)的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110186511.7 申請日 -
公開（公告）號 CN112985776A 公開（公告）日 2021-06-18
申請公布號 CN112985776A 申請公布日 2021-06-18
分類號 G01M11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張齊元;王芳;韓森;王浩宇;朱大勇 申請（專利權(quán)）人 蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 上海德昭知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 郁旦蓉
地址 215164 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)仁愛路150號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種檢測光學(xué)系統(tǒng)任意波長光學(xué)參數(shù)的方法，屬于光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域，用于檢測光學(xué)系統(tǒng)的多波長的光學(xué)參數(shù)，其特征在于，包括以下步驟：步驟S1，采用光學(xué)儀器分別對所述光學(xué)系統(tǒng)進行檢測獲得所述光學(xué)系統(tǒng)在R種波長分別為λ1～λr的參考光學(xué)參數(shù)f（λ1）、f（λ2）、······f（λr）；步驟S2，將步驟S1得到的所述光學(xué)參數(shù)帶入公式：式中，當(dāng)D＝0時（即只有前3項時）R≥3，當(dāng)D≠0時R≥4，n≥max{X1,X2}，計算參數(shù)A、B、C以及D的值；步驟S3，將計算得到的A、B、C以及D帶入公式中，計算波長為λm的光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)參數(shù)。