圖形化SOILDMOS器件結構
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202122099659.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN215418189U | 公開(公告)日 | 2022-01-04 |
| 申請公布號 | CN215418189U | 申請公布日 | 2022-01-04 |
| 分類號 | H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L23/367(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 張耀輝;黃安東 | 申請(專利權)人 | 蘇州華太電子技術股份有限公司 |
| 代理機構 | 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) | 代理人 | 趙世發(fā) |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)星湖街328號創(chuàng)意產業(yè)園10-1F | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型公開了一種圖形化SOI LDMOS器件結構。所述圖形化SOI LDMOS器件結構包括依次疊層設置的襯底、第一絕緣層和外延層,其中,所述第一絕緣層的表面具有第一區(qū)域以及不同于第一區(qū)域的第二區(qū)域,所述第一絕緣層的第一區(qū)域開設有沿厚度方向貫穿所述第一絕緣層的圖形窗口,所述圖形窗口內填充有硅層,所述硅層分別與所述外延層、襯底導熱連接;以及源極、漏極、柵極以及與柵極相匹配的場板。本實用新型實施例提供的圖形化SOILDMOS器件結構,減小了上層硅器件的厚度,使得氧化層上的LDMOS器件的LDD結深觸底到氧化層上,進而減小了Cds,降低了Cdb,并能夠顯著減小Coss、改善LDMOS的高頻性能和效率。 |





