半導(dǎo)體工藝以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202111147872.7 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113948446A | 公開(公告)日 | 2022-01-18 |
| 申請公布號 | CN113948446A | 申請公布日 | 2022-01-18 |
| 分類號 | H01L21/762(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 汪洋;張耀輝 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州華太電子技術(shù)股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 霍文娟 |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)星湖街328號創(chuàng)意產(chǎn)業(yè)園10-1F | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請?zhí)峁┝艘环N半導(dǎo)體工藝以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),該半導(dǎo)體工藝包括:提供第一基底和第二基底,第一基底包括依次層疊的第一襯底、富陷阱層以及致密層,第二基底包括依次層疊的第二襯底以及有源層;在第一基底的裸露表面上形成介電層,形成第一鍵合基底,和/或,在第二基底的裸露表面上形成介電層,形成第二鍵合基底;以介電層作為鍵合界面,對以下之一進(jìn)行鍵合:第一基底和第二鍵合基底、第一鍵合基底和第二基底、第一鍵合基底和第二鍵合基底,得到鍵合結(jié)構(gòu);去除鍵合結(jié)構(gòu)的第二襯底,以使得有源層裸露。本申請通過在富陷阱層上形成致密層,可得到表面較為平坦的富陷阱層。 |





