去膜的鋁硅鍵合工藝
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201910800765.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN111933602A | 公開(公告)日 | 2020-11-13 |
| 申請公布號 | CN111933602A | 申請公布日 | 2020-11-13 |
| 分類號 | H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 李威;韓金龍 | 申請(專利權)人 | 格物感知(深圳)科技有限公司 |
| 代理機構 | 蘇州通途佳捷專利代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 格物感知(深圳)科技有限公司 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市福田區(qū)福保街道市花路長富金茂大廈37層3710F | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明及晶圓焊接領域,公開了一種去膜的鋁硅鍵合工藝,先將貼片后待封裝的產品放入等離子清洗機中清洗去氧化和異物,再將待焊接的產品放入充有氮氫混合惰性氣體的機器進行保護,然后將產品使用載具固定在機器中,按照焊線的位置進行程序的編輯,最后調整超聲波、壓力參數焊接鋁線與硅片。去掉金線焊接中必須使用的高溫焊接,減少對高溫敏感的PCB或元器件的影響限制,直接使用鋁線和硅片鍵合,省去了鍍鋁這項工藝,可以減少很多后續(xù)工藝降低成本,提高了可靠性,實現了晶圓生產中后續(xù)加工,只需原始硅片即可完成相應的焊接封裝與電測性測試。?? |





