一種芯片老化試驗箱

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022595898.5 申請日 -
公開（公告）號 CN213957431U 公開（公告）日 2021-08-13
申請公布號 CN213957431U 申請公布日 2021-08-13
分類號 G01R1/04（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊文祥 申請（專利權(quán)）人 蘇州諾威特測控科技有限公司
代理機構(gòu) 蘇州科仁專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 郭楊
地址 215100江蘇省蘇州市吳中經(jīng)濟開發(fā)區(qū)吳中大道2588號21幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種芯片老化試驗箱，包括具有高溫試驗腔的箱體、轉(zhuǎn)動設(shè)置于所述箱體上的箱門、控制單元，其特征在于，所述箱門與所述箱體之間設(shè)置有電子式門吸鎖，所述箱門與/或所述箱體上設(shè)置有通過采集高溫試驗腔內(nèi)溫度從而控制所述電子式門吸鎖的溫度感應裝置，所述溫度感應裝置與控制單元輸入端電連接，通過在高溫試驗箱上設(shè)置電子式門吸鎖，采用電子式控制方式開關(guān)箱，使用方便；同時設(shè)置溫度感應裝置采集高溫試驗腔內(nèi)溫度，控制門吸鎖的開關(guān)，對箱門開閉設(shè)置高溫保護限制，避免在高溫狀態(tài)下打開箱門引起對人員的燙傷，提高安全性。