一種RFID讀寫器性能測試平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201220597395.4 申請日 -
公開（公告）號 CN202994918U 公開（公告）日 2013-06-12
申請公布號 CN202994918U 申請公布日 2013-06-12
分類號 G01R31/00(2006.01)I;G06K17/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 尹周平;王瑜輝;單臣玉;邵光遠;張超;羅強 申請（專利權(quán)）人 東莞市華科制造工程研究院有限公司
代理機構(gòu) 北京信慧永光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 東莞華中科技大學(xué)制造工程研究院;東莞思谷數(shù)字技術(shù)有限公司;東莞市華科制造工程研究院有限公司
地址 523808 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)科技九路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及RFID讀寫器測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種RFID讀寫器性能測試平臺；本實用新型的升降測試平臺包括設(shè)置在測試機架上的上固定架，上固定架向下穿設(shè)三根以上的螺栓，螺栓的底端穿設(shè)過一測試托盤，螺栓的末端設(shè)置調(diào)節(jié)螺母；測試時，將RFlD讀寫器放置在測試托盤上，需要調(diào)整RFlD讀寫器的高度時，調(diào)節(jié)設(shè)置螺栓的末端設(shè)置的調(diào)節(jié)螺母，使測試托盤處于所需的高度使RFID讀寫器達到合適的位置，從而達到較佳的測試效果，另一方方面，無需設(shè)置墊置物，減少測試成本。