一種樣品轉(zhuǎn)換器以及樣品位校偏方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911265150.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111141922A 公開（公告）日 2020-05-12
申請公布號 CN111141922A 申請公布日 2020-05-12
分類號 G01N35/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏樂樵;朱光琪 申請（專利權(quán)）人 上海雷磁環(huán)保工程有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海九澤律師事務(wù)所 代理人 上海儀電科學(xué)儀器股份有限公司;上海雷磁環(huán)保工程有限公司
地址 201805 上海市嘉定區(qū)安亭鎮(zhèn)米泉路111號2幢101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種樣品轉(zhuǎn)換器，包括傳感器支架和樣品盤，樣品盤上設(shè)有多個均勻分布的用于放置樣品杯的樣品杯托，傳感器支架用于設(shè)置傳感器，樣品盤可以沿圓周運(yùn)動，使得樣品杯運(yùn)動到所述傳感器0號位下方，其特征在于，所述樣品轉(zhuǎn)換器包括存儲器；以及耦合到所述存儲器的處理器，該處理器被配置為執(zhí)行存儲在所述存儲器中的指令，所述處理器執(zhí)行以下操作：樣品位的角度和沿樣品盤半徑位移校偏，樣品轉(zhuǎn)換器正常工作，其中，所述樣品位的角度校偏過程包括，0號位自檢，反復(fù)調(diào)整樣品位的轉(zhuǎn)動角度的偏差量，直到調(diào)整到位；所述樣品位的半徑位移校偏過程包括，傳感器支架自檢，反復(fù)調(diào)整樣品位的沿樣品盤半徑位移偏差量，直到調(diào)整到位。