一種半敞開(kāi)式測(cè)試機(jī)架

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201310185800.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN104167225B 公開(kāi)（公告）日 2016-09-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN104167225B 申請(qǐng)公布日 2016-09-07
分類號(hào) G12B9/08(2006.01)I 分類 儀器的零部件;
發(fā)明人 顧宏翔 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海唐盛信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上?？剖⒅R(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海唐盛信息科技有限公司
地址 200070 上海市閘北區(qū)中華新路496號(hào)2號(hào)樓303室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種半敞開(kāi)式測(cè)試機(jī)架，包括基座、側(cè)圍板和上面板，所述的上面板通過(guò)側(cè)圍板與基座連接，所述的基座、側(cè)圍板、上面板圍設(shè)成一空腔，所述的基座上設(shè)有測(cè)試臺(tái)，所述的上面板上設(shè)有開(kāi)口。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明可更方便快捷地找到測(cè)試板卡的故障，提高維修效率。