一種筆電外殼缺陷快速檢測算法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011618739.0 申請日 -
公開（公告）號 CN112700415A 公開（公告）日 2021-04-23
申請公布號 CN112700415A 申請公布日 2021-04-23
分類號 G06T7/00(2017.01)I;G06T7/13(2017.01)I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 劉子平;韋世強 申請（專利權(quán)）人 重慶宇海精密制造股份有限公司
代理機構(gòu) 重慶百潤洪知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 程宇
地址 402760重慶市璧山區(qū)璧泉街道聚金大道1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種筆電外殼缺陷快速檢測算法，通過分別采集待檢驗筆電外殼的待測圖像和無缺陷筆電外殼的標(biāo)準(zhǔn)模板圖像，并在待測圖像和標(biāo)準(zhǔn)模板圖像內(nèi)截取用于進行對比的部分圖像，將其轉(zhuǎn)化為包含灰度值的二維數(shù)組，經(jīng)過粗定位和精確定位將截取至標(biāo)準(zhǔn)模板圖像的部分圖像對應(yīng)投射至待測圖像內(nèi)，并進行和差運算，從而找出部分圖像內(nèi)的不同處，最后經(jīng)過遍歷對比，即可找出待檢驗筆電外殼的待測圖像和無缺陷筆電外殼的標(biāo)準(zhǔn)模板圖像是否存在不同之處，從而對筆記本電腦外殼是否存在缺陷進行自動判斷，從而提高筆記本電腦外殼缺陷檢驗的效率。??