一種測試治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201922428002.1 申請日 -
公開(公告)號 CN212111613U 公開(公告)日 2020-12-08
申請公布號 CN212111613U 申請公布日 2020-12-08
分類號 G01R31/00(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 賀建文 申請(專利權(quán))人 江西聯(lián)思觸控技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 江西聯(lián)思觸控技術(shù)有限公司
地址 330096江西省南昌市高新技術(shù)開發(fā)區(qū)創(chuàng)新一路59號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種測試治具,用于對顯示器件進(jìn)行靜電測試,所述測試治具包括測試板,以及設(shè)于所述測試板上的測試組件,所述顯示器件上設(shè)有連接器,所述連接器用于與所述測試組件連接,所述測試板上設(shè)有定位框,所述定位框用于放置所述顯示器件,所述測試板上鋪設(shè)有導(dǎo)電布,所述顯示器件置于所述導(dǎo)電布上方,所述顯示器件與所述導(dǎo)電布接觸的一側(cè)具有導(dǎo)電性,所述導(dǎo)電布與所述測試治具的地線連接,所述顯示器件上設(shè)有鋼片,所述測試治具上設(shè)有與所述地線連接的導(dǎo)電板,所述鋼片與所述導(dǎo)電板接觸。這種測試治具能夠?qū)︼@示器件進(jìn)行測試而不損傷顯示器件。??