一種高性能的絕緣柵雙極型晶體管結構
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201921553297.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN210607266U | 公開(公告)日 | 2020-05-22 |
| 申請公布號 | CN210607266U | 申請公布日 | 2020-05-22 |
| 分類號 | H01L29/739;H01L29/06 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 陽平 | 申請(專利權)人 | 上海擎茂微電子科技有限公司 |
| 代理機構 | 溫州知遠專利代理事務所(特殊普通合伙) | 代理人 | 上海擎茂微電子科技有限公司 |
| 地址 | 201100 上海市閔行區(qū)紫星路588號2幢1169室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型公開了一種高性能的絕緣柵雙極型晶體管結構,包括半導體襯底、柵氧化層、多晶硅柵極、發(fā)射極電極、JFET區(qū)本體、絕緣介質層、N+發(fā)射區(qū)、P阱區(qū)、P+深阱區(qū)、漂移區(qū)、P型集電極區(qū)和集電極本體。本實用新型通過刻蝕工藝在JFET區(qū)本體的上方去除多晶硅柵極,使得器件承受反向耐壓時JFET區(qū)本體的表面電場大為減少,增強了P阱區(qū)對JFET區(qū)本體的耐壓保護作用,增大了器件的擊穿電壓,JFET區(qū)本體上方沒有多晶硅柵極,在器件承受反向擊穿電壓時,JFET區(qū)本體的表面電場強度降低,解決了JFET區(qū)表面的電場峰值增大,造成器件的擊穿電壓較低,以及柵源電容和柵漏電容較大,器件開通和關斷損耗較大的問題。 |





