可讀存儲(chǔ)介質(zhì)、支架缺陷位置獲取方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010444102.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113724183A 公開（公告）日 2021-11-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN113724183A 申請(qǐng)公布日 2021-11-30
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/77（2017.01）I;G06T7/90（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T5/30（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 黃彎彎;呂文爾 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海微創(chuàng)卜算子醫(yī)療科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海思捷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王宏婧
地址 201203上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)張東路1601號(hào)1幢1702室（實(shí)際樓層15層）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種可讀存儲(chǔ)介質(zhì)、支架缺陷位置獲取方法及裝置，包括：對(duì)待測(cè)圖像進(jìn)行二值化處理，以獲取二值化圖像；對(duì)所述二值化圖像進(jìn)行形態(tài)學(xué)操作，并以所述支架的軸向?yàn)闄M向坐標(biāo)軸，統(tǒng)計(jì)進(jìn)行形態(tài)學(xué)操作后的所述二值化圖像的每一列的白色像素點(diǎn)個(gè)數(shù)；基于統(tǒng)計(jì)的結(jié)果建立坐標(biāo)映射表，所述坐標(biāo)映射表反映所述支架的橫向像素坐標(biāo)和所述支架的位置標(biāo)簽之間的映射關(guān)系；根據(jù)所述支架的缺陷所對(duì)應(yīng)的橫向像素坐標(biāo)及所述坐標(biāo)映射表，獲取所述缺陷的位置標(biāo)簽并輸出，以用于識(shí)別所述缺陷在所述支架中的實(shí)際位置。如此，在人工對(duì)支架的缺陷進(jìn)行核查時(shí)，即可根據(jù)輸出的位置標(biāo)簽，快速找到缺陷的位置。