基于光照背景差影法的水果表面缺陷檢測方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201510411925.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN105044128B | 公開(公告)日 | 2017-09-01 |
| 申請公布號 | CN105044128B | 申請公布日 | 2017-09-01 |
| 分類號 | G01N21/952(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06T5/10(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 應(yīng)義斌;容典;饒秀勤 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州諾田智能科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 浙江大學(xué) |
| 地址 | 310012 浙江省杭州市余杭區(qū)五常街道聯(lián)創(chuàng)街153號麗水?dāng)?shù)字大廈B座1102 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于光照背景差影法的水果表面缺陷檢測方法。是先對RGB彩色圖像去除背景轉(zhuǎn)換成灰度圖像,對灰度圖像進(jìn)行中值濾波獲得光照背景圖像,將光照背景圖減去灰度圖像獲得差影圖像,差影圖像進(jìn)行對比度調(diào)整,然后閾值分割獲得二值化圖像,二值化圖像進(jìn)行區(qū)域填充和中值濾波獲得表面缺陷圖像。本發(fā)明有效避免了對水果及農(nóng)產(chǎn)品形狀、大小的依賴以及避免了亮度矯正帶來較復(fù)雜的計(jì)算方法,也避免了依賴高光譜以及多光譜成像硬件帶來的高成本性問題。能夠有效檢測多種表面缺陷。方法應(yīng)用對象較廣,方法算法簡便易于程序?qū)崿F(xiàn),而且算法流程執(zhí)行速度快從而提高檢測效率,在水果及農(nóng)產(chǎn)品品質(zhì)計(jì)算機(jī)視覺在線檢測方面具有應(yīng)用潛力。 |





