一種半導(dǎo)體晶粒檢驗工裝

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201822273800.7 申請日 -
公開（公告）號 CN209312728U 公開（公告）日 2019-08-27
申請公布號 CN209312728U 申請公布日 2019-08-27
分類號 H01L21/67（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 李鳳麗; 鄒祥林; 張俊 申請（專利權(quán)）人 泰州芯格電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州易瑞智新專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 周浩杰
地址 225500 江蘇省泰州市姜堰南環(huán)西路1001號科技大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種半導(dǎo)體晶粒檢驗工裝，包括支撐架；所述支撐架上固定設(shè)有用于盛放半導(dǎo)體晶粒的透明的盛放板；所述支撐架上還設(shè)有位于盛放板的正下方用于映照盛放板上情況的鏡子。本實用新型便于半導(dǎo)體晶粒的檢驗和分揀，通過鏡子可以同時對半導(dǎo)體晶粒的正反面進(jìn)行檢查和分揀，大大提高分揀效率。