基于超聲波的半導(dǎo)體芯片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201921685912.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN211652689U 公開(公告)日 2020-10-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN211652689U 申請(qǐng)公布日 2020-10-09
分類號(hào) G01N29/04(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 朱汪龍;朱玲 申請(qǐng)(專利權(quán))人 無(wú)錫樂東微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 樓高潮
地址 214000江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)景賢路52號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種基于超聲波的半導(dǎo)體芯片缺陷檢測(cè)系統(tǒng),包括:傳輸裝置,半導(dǎo)體芯片在所述傳輸裝置上運(yùn)輸;包括超聲波探頭的超聲波檢測(cè)裝置,該超聲波檢測(cè)裝置設(shè)置于所述傳輸裝置的正上方,并向所述傳輸裝置發(fā)射超聲波信號(hào);主控裝置,與所述超聲波檢測(cè)裝置相連接;報(bào)警裝置,所述報(bào)警裝置與所述主控裝置相連接;當(dāng)所述半導(dǎo)體芯片在所述傳輸裝置上傳輸時(shí),所述超聲波檢測(cè)裝置向所述半導(dǎo)體芯片上發(fā)射超聲波,當(dāng)所述主控裝置判斷出所述半導(dǎo)體芯片外觀存在缺陷時(shí),所述報(bào)警裝置進(jìn)行報(bào)警。采用該種結(jié)構(gòu)的基于超聲波的半導(dǎo)體芯片缺陷檢測(cè)系統(tǒng),對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè),準(zhǔn)確性高、可靠性強(qiáng)。??