半導(dǎo)體芯片的缺陷檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201921602351.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN210834704U | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-06-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN210834704U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-06-23 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01N21/95(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I | 分類(lèi) | - |
| 發(fā)明人 | 朱汪龍;朱玲 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 無(wú)錫樂(lè)東微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京經(jīng)緯專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 樓高潮 |
| 地址 | 214000江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)景賢路52號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體芯片的缺陷檢測(cè)裝置，包括：傳輸裝置，半導(dǎo)體芯片在所述傳輸裝置上運(yùn)輸；紅外攝像頭和/或普通光學(xué)鏡頭，該紅外攝像頭和/或普通光學(xué)鏡頭設(shè)置于所述傳輸裝置的上方；紅外光源，該紅外光源設(shè)置于所述紅外攝像頭上，且正對(duì)所述傳輸裝置上的半導(dǎo)體芯片；圖像分析裝置，與所述紅外攝像頭相連接；報(bào)警裝置，所述報(bào)警裝置與所述圖像分析裝置相連接；當(dāng)所述半導(dǎo)體芯片在所述傳輸裝置上傳輸時(shí)，所述紅外攝像頭獲取所述半導(dǎo)體芯片的圖像并傳輸至所述圖像分析裝置，當(dāng)所述圖像分析裝置判斷出所述半導(dǎo)體芯片外觀存在缺陷時(shí)，所述報(bào)警裝置進(jìn)行報(bào)警。采用該種結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體芯片的缺陷檢測(cè)裝置，對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，準(zhǔn)確性高、可靠性強(qiáng)。?? |
