一種提高霍爾器件抗靜電擊穿能力的方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN02116447.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN100414733C | 公開(公告)日 | 2008-08-27 |
| 申請公布號 | CN100414733C | 申請公布日 | 2008-08-27 |
| 分類號 | H01L43/06(2006.01);H01L43/14(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 鄭一陽;韓海;景士平;梁平 | 申請(專利權(quán))人 | 北京華源科半光電子科技有限責任公司 |
| 代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100083北京市海淀區(qū)清華東路肖莊林業(yè)大學院內(nèi)中科院半導體所 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種抗靜電脈沖電壓的離子注入型砷化鎵霍爾器件的制備工藝方法,采用特別的電極圖形,使在金屬電極與有源區(qū)接觸的界面區(qū)域,形成一個寬度為10μm的過渡區(qū),有源器件在該過渡區(qū)域的寬度逐漸改變,從而避免區(qū)域容易發(fā)生擊穿的缺陷,大大提高了器件的可靠性。 |





