粒子形貌不規(guī)則的粉體材料的粒徑測定方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201410015067.2 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN103760074B | 公開(公告)日 | 2016-08-31 |
| 申請公布號 | CN103760074B | 申請公布日 | 2016-08-31 |
| 分類號 | G01N15/02(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 廖向陽;謝宏偉;王玲;倪曉光 | 申請(專利權(quán))人 | 鎮(zhèn)江泛華檢測科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 鎮(zhèn)江京科專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 夏哲華 |
| 地址 | 212009 江蘇省鎮(zhèn)江新區(qū)丁卯經(jīng)十二路468號雙子樓A座 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明屬于粉體材料的檢測技術(shù),具體涉及一種應(yīng)用于漿狀體系的粒子形貌不規(guī)則的粉體材料的粒徑測定方法。其將粒子形貌不規(guī)則的粉體材料取樣模擬該粉體材料下游用戶使用時的分散方法制成分散好的漿料;取漿料樣稀釋并用超聲波進一步分散后制成低濃度的懸浮液;取懸浮液滴加到帶支持膜的透射電鏡專用銅網(wǎng)上;將銅網(wǎng)放入透射電鏡后先在低倍率下觀察分散狀況后用高倍率觀察拍照;對照片中的粒子測量最大直徑和最小直徑,并根據(jù)最大粒徑進行分區(qū)間統(tǒng)計分析。根據(jù)本發(fā)明的方法能更加方便準(zhǔn)確反映出粒子形貌不規(guī)則的粉體材料在下游用戶中的應(yīng)用效果。 |





