低信噪比下的硅單晶生長圖像的自適應隨機共振去噪方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201810199562.1 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN108550116A | 公開(公告)日 | 2018-09-18 |
| 申請公布號 | CN108550116A | 申請公布日 | 2018-09-18 |
| 分類號 | G06T5/00;G06N3/00 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 焦尚彬;劉倩 | 申請(專利權)人 | 西安奕斯偉設備技術有限公司 |
| 代理機構 | 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 | 代理人 | 西安理工大學;西安奕斯偉設備技術有限公司 |
| 地址 | 710048 陜西省西安市金花南路5號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了低信噪比下的硅單晶生長圖像的自適應隨機共振去噪方法,針對低信噪比下的硅單晶生長圖像,將雙穩(wěn)態(tài)隨機共振與PSO尋優(yōu)算法相結合,設計了基于PSO的自適應隨機共振圖像去噪算法。本發(fā)明利用隨機共振具有無損檢測微弱信號的優(yōu)點,對低信噪比下的硅單晶生長圖像進行去噪增強,提高圖像的質量。利用PSO尋優(yōu)算法,將Donoho噪聲標準差作為尋優(yōu)算法的適應度函數(shù),對隨機共振的系統(tǒng)參數(shù)進行實時調整以獲得最佳共振輸出效應,實現(xiàn)圖像去噪。經過該方法對低信噪比下的硅單晶生長圖像處理后,可有效去除噪聲,提高圖像的質量,進而使得低信噪比下的硅單晶圖像的彎月面能準確檢測,為晶體直徑的準確檢測奠定了基礎。 |





