亞表面缺陷的檢測(cè)裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110238855.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113008796A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-06-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113008796A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-22 |
| 分類號(hào) | G01N21/01;G01N21/95 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 馮勝;翟中生;王選擇;謝博婭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 赤壁精邁光電科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 吳敏 |
| 地址 | 437315 湖北省咸寧市赤壁市中伙鋪鎮(zhèn)高新區(qū)美麗健康產(chǎn)業(yè)園33棟 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種亞表面缺陷的檢測(cè)裝置,包括:光源組件,所述光源組件適宜于產(chǎn)生照明光,所述照明光為發(fā)散光;所述照明光耦合入待檢測(cè)件中以形成波導(dǎo)光,所述波導(dǎo)光在所述待檢測(cè)件中以導(dǎo)波模式傳播;成像組件,所述成像組件包括:面陣圖像傳感器,所述面陣圖像傳感器適宜于采集被散射的波導(dǎo)光以獲得缺陷圖像;處理組件,所述處理組件適宜于對(duì)所述缺陷圖像進(jìn)行處理。所述檢測(cè)裝置能夠?qū)崿F(xiàn)多角度檢測(cè)以提高成像效率;而且,成像組件中采用面陣圖像傳感器獲得缺陷圖像,配合呈發(fā)散光的照明光,能夠避免掃描的方式的引用,從而避免機(jī)械振動(dòng)干擾、降低同步控制難度。 |





