偏振光性能的檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110680091.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113340424A 公開(kāi)（公告）日 2021-09-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN113340424A 申請(qǐng)公布日 2021-09-03
分類(lèi)號(hào) G01J4/00（2006.01）I;H04B10/70（2013.01）I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 周輝;喬晟 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海國(guó)科航星量子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海思捷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 黃一磊
地址 200439上海市寶山區(qū)逸仙路1328號(hào)1號(hào)樓604室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種偏振光性能的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置。所述檢測(cè)方法中，首先待測(cè)偏振光束入射到反射式平行光管的主鏡表面且經(jīng)反射匯聚后形成匯聚偏振光，匯聚偏振光束以避開(kāi)反射式平行光管的次鏡的路徑傳播，然后對(duì)匯聚偏振光束進(jìn)行檢偏，接著檢測(cè)匯聚偏振光束中的偏振分量光束的光強(qiáng)度，之后計(jì)算待測(cè)偏振光束的消光比。利用上述檢測(cè)方法對(duì)待測(cè)偏振光束進(jìn)行檢測(cè)，可以避免次鏡對(duì)待測(cè)偏振光束的偏振性能的影響，提高消光比的檢測(cè)準(zhǔn)確度，有助于準(zhǔn)確評(píng)估待測(cè)偏振光束的偏振性能。所述檢測(cè)裝置中，量子通訊終端發(fā)出的待測(cè)偏振光束入射到反射式平行光管的主鏡表面并反射匯聚，形成的匯聚偏振光束以避開(kāi)次鏡的路徑傳播。