一種用于MOCVD設(shè)備的硅基托盤及制備方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011425944.5 申請日 -
公開(公告)號 CN112410762A 公開(公告)日 2021-02-26
申請公布號 CN112410762A 申請公布日 2021-02-26
分類號 C23C16/458(2006.01)I 分類 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學(xué)處理;金屬材料的擴散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕;
發(fā)明人 汪洋;余盛杰;劉佳寶;柴攀;萬強 申請(專利權(quán))人 湖南德智新材料有限公司
代理機構(gòu) 長沙朕揚知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 劉向丹
地址 412000湖南省株洲市天元區(qū)中國動力谷自主創(chuàng)新園(研發(fā)中心C棟2樓202號)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于MOCVD設(shè)備的硅基托盤及制備方法,其包括構(gòu)成托盤基材的Si基體和Si基體表面的復(fù)合涂層,所述復(fù)合涂層包括熱解炭過渡層、Si基體與熱解炭過渡層之間界面處的SiC界面層、以及最外層的SiC涂層,所述SiC界面層由熱解炭過渡層與Si基體在界面處發(fā)生反應(yīng)形成。高溫下熱解炭層可與硅基體在界面處通過化學(xué)鍵、強結(jié)合作用形成致密的碳化硅界面層,進一步防護托盤基材,同時熱解炭層可匹配基體與最外層的熱膨脹系數(shù)差異。復(fù)合涂層中軟質(zhì)C層結(jié)構(gòu)可有效緩解最外層SiC晶體的熱膨脹,以降低涂層內(nèi)的應(yīng)力峰值。??