磁吸式探針卡裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202120016530.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN214374930U | 公開(公告)日 | 2021-10-08 |
| 申請公布號 | CN214374930U | 申請公布日 | 2021-10-08 |
| 分類號 | G01R1/073(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 吳銘欽;劉峰;黃宏義 | 申請(專利權)人 | 蘇州雨竹機電有限公司 |
| 代理機構 | 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 | 代理人 | 李林 |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市中國(江蘇)自由貿易試驗區(qū)蘇州片區(qū)蘇州工業(yè)園區(qū)蘇虹中路39號2幢2樓西側 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型為一種磁吸式探針卡裝置,包括一探針卡及一測試座。探針卡包括復數(shù)探針設置在基板上,且探針向下延伸至基板下表面,每一探針上表面鍍有一磁性層。測試座則對應探針卡設置,測試座包括一晶圓測試平臺及一電磁鐵,電磁鐵設置于晶圓測試平臺下方,電磁鐵能產生磁力,以將復數(shù)探針吸附至晶圓測試平臺,令復數(shù)探針接觸到晶圓測試平臺上的晶圓,以進行晶圓檢測。本實用新型可利用磁力吸附探針接觸到晶圓,能有效確保復數(shù)探針都接觸晶圓探測點,且避免探針被過度施力,減少探針結構的疲勞或斷裂,同時減少晶圓測試接點上針痕的產生程度。 |





