基于激光相干檢測(cè)的顆粒物檢測(cè)系統(tǒng)及方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111242258.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113984609A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-01-28 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113984609A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-01-28 |
| 分類號(hào) | G01N15/06（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李熠豪;王占鋒 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海北分科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海光華專利事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 徐秀秀 |
| 地址 | 201202上海市浦東新區(qū)川圖路33號(hào)2幢 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種基于激光相干檢測(cè)的顆粒物檢測(cè)系統(tǒng)及方法，所述基于激光相干檢測(cè)的顆粒物檢測(cè)系統(tǒng)包括：激光裝置，用于發(fā)射激光束，所述激光束穿過(guò)被測(cè)顆粒物；相干裝置，用于將穿過(guò)所述被測(cè)顆粒物的激光束分光，使分光形成的不同的信號(hào)光發(fā)生干涉，生成干涉條紋；干涉條紋探測(cè)裝置，用于檢測(cè)所述干涉條紋。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)顆粒物散射光的相干檢測(cè)。 |
