集成電路測試方案的自動化生成方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110667619.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113468301A 公開（公告）日 2021-10-01
申請公布號 CN113468301A 申請公布日 2021-10-01
分類號 G06F16/332（2019.01）I;G06F16/35（2019.01）I;G06F40/166（2020.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N20/00（2019.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 蔣信;劉瑞盛;喻濤;李澤 申請（專利權(quán)）人 普賽微科技（杭州）有限公司
代理機構(gòu) 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李健
地址 310000浙江省杭州市臨安區(qū)青山湖街道大園路1188號2幢3層3034A室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種集成電路產(chǎn)品的自動化測試方法和系統(tǒng)，涉及芯片測試技術(shù)，方法包括以下步驟：獲取集成電路產(chǎn)品的技術(shù)文檔；從所述技術(shù)文檔中提取多個技術(shù)規(guī)格，根據(jù)多個所述技術(shù)規(guī)格生成測試計劃文檔；根據(jù)所述測試計劃文檔選擇目標(biāo)自動測試設(shè)備；根據(jù)所述測試計劃文檔和所述目標(biāo)自動測試設(shè)備生成針對所述測試計劃文檔中各測試項的測試程序；在所述目標(biāo)自動測試設(shè)備中運行所述測試程序以對所述集成電路產(chǎn)品進行測試。本申請可以提高集成電路產(chǎn)品的測試效率。