用于目標(biāo)檢測的標(biāo)簽平滑方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202011275128.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112418283A | 公開(公告)日 | 2021-02-26 |
| 申請公布號 | CN112418283A | 申請公布日 | 2021-02-26 |
| 分類號 | G06K9/62(2006.01)I;G06T7/62(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 許耀贐;梁天明;曲延鋒;劉海洋;戴弘林 | 申請(專利權(quán))人 | 三六零智慧科技(天津)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人 | 薛福玲 |
| 地址 | 300000天津市濱海新區(qū)濱??萍紙@高新六路39號9-3-401號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明屬于機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種用于目標(biāo)檢測的標(biāo)簽平滑方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。本發(fā)明通過獲取目標(biāo)檢測樣本中目標(biāo)框與目標(biāo)交疊框的交集面積及并集面積;根據(jù)交集面積與所述并集面積確定交并比,根據(jù)交集面積與目標(biāo)框的面積確定第一交積比,并根據(jù)交集面積與目標(biāo)交疊框的面積確定第二交積比;根據(jù)交并比、第一交積比及第二交積比調(diào)整目標(biāo)框的類別標(biāo)簽,以使類別標(biāo)簽平滑;由于是通過目標(biāo)交疊框與目標(biāo)框的各項(xiàng)比值調(diào)整類別標(biāo)簽,將調(diào)整后的類別標(biāo)簽作為目標(biāo)檢測樣本的標(biāo)簽向量,可以正確反映目標(biāo)檢測樣本中不同對象類別間的定量關(guān)系,且標(biāo)簽平滑計(jì)算過程并不復(fù)雜,計(jì)算時(shí)間短,可以滿足工業(yè)場景中實(shí)時(shí)檢測對計(jì)算時(shí)間的要求。?? |





