氟磺酸純度的檢測方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202011594078.2 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112782306B | 公開(公告)日 | 2022-07-15 |
| 申請公布號 | CN112782306B | 申請公布日 | 2022-07-15 |
| 分類號 | G01N30/02(2006.01)I;G01N30/06(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 徐偉國;殷松南 | 申請(專利權(quán))人 | 九江天賜高新材料有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 南昌青遠專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
| 地址 | 332500江西省九江市湖口縣金砂灣工業(yè)園 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種氟磺酸純度的檢測方法,包括:S1:前處理:向氟磺酸標準品和待測樣品分別加入一定體積過量氫氧化鈉/鉀溶液,反應(yīng)后用鹽酸調(diào)節(jié)pH值至7?9,淋洗液稀釋過濾待用;S2:繪制標準曲線:量取經(jīng)S1處理的標準品,加入2?4倍氟磺酸標準品質(zhì)量的硫酸根離子,配制梯度濃度的氟磺酸標準品溶液,采用離子色譜法檢測,以氟磺酸標準品濃度和峰面積,繪制標準曲線;S3:進樣檢測:量取經(jīng)S1處理的待測樣品,加入2?4倍待測樣品質(zhì)量的硫酸根離子,配制待測溶液,用離子色譜法檢測,擬合峰面積和標準曲線,計算待測樣品中氟磺酸的含量。本發(fā)明的方法,相比氟測定法有更好的線性,更準確測定氟磺酸,且受氫氟酸干擾小,雜質(zhì)表述全面,分離度高,時短高效,穩(wěn)定性高,對儀器的要求低。 |





