阻抗測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201921351977.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN210604788U 公開（公告）日 2020-05-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN210604788U 申請(qǐng)公布日 2020-05-22
分類號(hào) G01R27/02;G09G3/00 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王寧;包盛梅;湯建中;華縝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 昆山儀電顯示材料有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海儀電顯示材料有限公司
地址 201108 上海市閔行區(qū)華寧路3306弄160號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種阻抗測(cè)試裝置，包括：樣品臺(tái)，用于放置被測(cè)樣品；固定機(jī)構(gòu)，所述固定機(jī)構(gòu)固定在所述樣品臺(tái)上；探針固定座，所述探針固定座設(shè)置在所述固定機(jī)構(gòu)上；探針組件，包括至少兩個(gè)探針套管以及裝設(shè)于所述探針套管內(nèi)的探針，所述探針套管固定于所述探針固定座上。所述阻抗測(cè)試裝置可以提高測(cè)試結(jié)果的精確性以及滿足精細(xì)化樣品測(cè)試的需求。