一種自適應盲檢方法、裝置、設備及介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110616328.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113556299A 公開（公告）日 2021-10-26
申請公布號 CN113556299A 申請公布日 2021-10-26
分類號 H04L25/02（2006.01）I 分類 電通信技術;
發(fā)明人 朱洪飛;汪奕汝;趙玉萍;李斗 申請（專利權）人 北京瀚諾半導體科技有限公司
代理機構 北京辰權知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 谷波
地址 100871北京市海淀區(qū)頤和園路5號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種自適應盲檢方法、裝置、介質及設備，其中，所述方法包括：初始化連續(xù)消除列表譯碼算法的當前列表尺寸Lnow的初始值以及最大列表尺寸Lmax；利用所述連續(xù)消除列表譯碼算法對所有的物理下行控制信道進行譯碼并進行循環(huán)冗余校驗，若有物理下行控制信道候選者通過了循環(huán)冗余校驗，則用戶設備盲檢成功，結束流程。仿真結果表明，本公開所提自適應盲檢可以在實現(xiàn)與單階段盲檢和雙階段盲檢相同的漏檢率（Missed Detection Rate，MDR）的前提下，大大降低盲檢過程所需的平均的L值，從而顯著地降低了盲檢的時間復雜度。