一種自動(dòng)檢測(cè)負(fù)載接入的電路及插座
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201510783090.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN105353243B | 公開(公告)日 | 2018-10-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN105353243B | 申請(qǐng)公布日 | 2018-10-19 |
| 分類號(hào) | G01R31/00;H01R13/66;H01R13/70 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 高戰(zhàn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳華發(fā)睿智科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 郝傳鑫;熊永強(qiáng) |
| 地址 | 519080 廣東省珠海市科技創(chuàng)新海岸魅族科技樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種自動(dòng)檢測(cè)負(fù)載接入的電路,包括:所述微處理器用于向所述雙向可控硅輸出第一控制信號(hào),所述雙向可控硅用于當(dāng)檢測(cè)到負(fù)載接入電路時(shí),根據(jù)所述第一控制信號(hào),導(dǎo)通向所述負(fù)載提供電壓的第一輸電回路,進(jìn)而在所述采樣電阻的兩端形成壓降,所述比較放大器用于根據(jù)所述采樣電阻兩端的壓降,向所述微處理器輸出高電平信號(hào),以使所述微處理器根據(jù)所述高電平信號(hào)向所述繼電器輸出第二控制信號(hào),所述繼電器用于根據(jù)所述第二控制信號(hào),導(dǎo)通向所述負(fù)載提供電壓的第二輸電回路。采用本發(fā)明實(shí)施例,可以提高檢測(cè)負(fù)載接入并進(jìn)行供電的可靠性,提高了散熱效果,降低了設(shè)備成本。 |





