一種高低溫環(huán)境下芯片的批量化檢測線

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111631552.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN114308699A 公開（公告）日 2022-04-12
申請公布號(hào) CN114308699A 申請公布日 2022-04-12
分類號(hào) B07C5/02（2006.01）I;B07C5/08（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 陸學(xué)軍;方亞昆;楊海波;魏前龍;唐龍;陳潘 申請（專利權(quán)）人 安徽博微智能電氣有限公司
代理機(jī)構(gòu) 合肥市上嘉專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 葉洋軍
地址 230031安徽省合肥市高新區(qū)香樟大道168號(hào)科技實(shí)業(yè)園B-3號(hào)樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種高低溫環(huán)境下芯片的批量化檢測線，包括：輸送線體，沿料盤輸送方向依次設(shè)有上料、拾取和下料工位；兩套檢測組件，對(duì)稱布置在輸送線體兩側(cè)，包括芯片拾取機(jī)械手、檢測柜陣列、分料轉(zhuǎn)盤、第一視覺裝置；以及料框機(jī)械手，用于將空料盤轉(zhuǎn)送至分料轉(zhuǎn)盤上和將分料轉(zhuǎn)盤上的載滿芯片的料盤轉(zhuǎn)送至輸送線體上，其中，所述檢測柜設(shè)置有垂直分布的多層檢測盒，所述檢測盒中設(shè)有加熱器、抽屜和用于驅(qū)動(dòng)抽屜開閉的直線驅(qū)動(dòng)器，所述抽屜中排布有用于高低溫環(huán)境下芯片檢測的若干芯片檢測單元。本檢測線能夠提供高低溫環(huán)境測試，檢測盒采用垂直空間分布，節(jié)省占地面積。設(shè)備兼容性好，通過更換檢測工裝可以兼容不同的電子產(chǎn)品的檢測。