芯片檢測方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010027534.9 申請日 -
公開（公告）號 CN111229650A 公開（公告）日 2020-06-05
申請公布號 CN111229650A 申請公布日 2020-06-05
分類號 B07C5/344(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 胡信偉 申請（專利權）人 上海知白智能科技有限公司
代理機構 濟南信達專利事務所有限公司 代理人 程佩玉
地址 200333上海市普陀區(qū)真北路958號20幢1349室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了芯片檢測方法及系統(tǒng)，芯片檢測方法包括：預先在分選機轉盤上設置至少四個工位，包括依序排列的第一檢測工位、第二檢測工位、第三檢測工位和第四檢測工位，前兩者對應第一檢測項目，后兩者對應第二檢測項目；控制至少四個待測芯片依序進入工位；第一待測芯片轉入到第二檢測工位，第一待測芯片后的第二待測芯片轉入到第一檢測工位時，對兩者進行第一檢測項目的檢測；在第一待測芯片轉入到第四檢測工位，第二待測芯片轉入到第三檢測工位，依次排在第二待測芯片后的第三待測芯片和第四待測芯片分別轉入到第二檢測工位和第一檢測工位時，對前兩者進行第二檢測項目的檢測，對后兩者進行第一檢測項目的檢測。本發(fā)明能夠提高檢測芯片的效率。??