一種數(shù)據(jù)治理節(jié)點的校驗方法、裝置、設備及介質(zhì)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202210251022.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114611155A | 公開(公告)日 | 2022-06-10 |
| 申請公布號 | CN114611155A | 申請公布日 | 2022-06-10 |
| 分類號 | G06F21/64(2013.01)I;G06F16/23(2019.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 付大偉;鄭偉 | 申請(專利權(quán))人 | 云粒智慧科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 100037北京市西城區(qū)阜成門外大街甲28號西樓13層06室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明實施例公開了一種數(shù)據(jù)治理節(jié)點的校驗方法、裝置、設備及介質(zhì)。其中,該方法包括:在數(shù)據(jù)治理節(jié)點上線運行時,確定數(shù)據(jù)治理節(jié)點的節(jié)點更新時間和治理數(shù)據(jù)表的數(shù)據(jù)表更新時間;若所述節(jié)點更新時間和所述數(shù)據(jù)表更新時間中存在至少一個大于數(shù)據(jù)治理節(jié)點的預存校驗時間,則基于數(shù)據(jù)治理節(jié)點的配置內(nèi)容生成內(nèi)容摘要,并記錄內(nèi)容摘要生成時間;若所生成的內(nèi)容摘要與預存內(nèi)容摘要的信息一致,則確定所述數(shù)據(jù)治理節(jié)點校驗通過。本技術(shù)方案,能夠提升數(shù)據(jù)治理節(jié)點的校驗速度,節(jié)省系統(tǒng)算力。 |





