量產芯片的篩選方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010856980.0 申請日 -
公開(公告)號 CN112014719A 公開(公告)日 2020-12-01
申請公布號 CN112014719A 申請公布日 2020-12-01
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 耿磊;許俊 申請(專利權)人 南京盛科通信有限公司
代理機構 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 代理人 蘇婷婷
地址 211500江蘇省南京市江北新區(qū)研創(chuàng)園團結路99號孵鷹大廈1620室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種量產芯片的篩選方法和裝置,所述方法包括:在量產芯片之前,所述方法包括:S1、生產第一預設數量的芯片作為測試樣本;S2、批量獲取每一測試樣本的靜態(tài)電流值,以及在預定應用環(huán)境下獲取每一測試樣本對應的功耗值;S3、根據所有測試樣本的靜態(tài)電流值和其所對應的最大功耗值,歸納靜態(tài)電流值和功耗值的線性映射關系函數;S4、根據線性映射關系函數以及量產芯片的預設功耗值獲取量產芯片的理論靜態(tài)電流值;在量產芯片之后,所述方法包括:S5、獲取量產芯片中每一芯片的實際靜態(tài)電流值,并根據每一芯片的實際靜態(tài)電流值和其所對應的理論靜態(tài)電流值的大小關系對量產芯片進行篩選;本發(fā)明可對符合功耗要求的芯片進行批量篩選。??