芯片挑選方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111336323.4 申請日 -
公開（公告）號 CN114113978A 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN114113978A 申請公布日 2022-03-01
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉署;徐宏思;桂曉峰;李育飛 申請（專利權(quán)）人 成都海光集成電路設(shè)計(jì)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京蘭亭信通知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 苑晨超
地址 610041四川省成都市高新區(qū)天府大道中段1366號2棟天府軟件園E5座11層22-31號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種芯片挑選方法，包括：向測試機(jī)發(fā)送測試開始指令，以使測試機(jī)將待測試的芯片安裝在測試主板上并向測試主板供電；通過測試主板的聯(lián)合測試工作組接口，讀取芯片的第一序列號；將芯片的第一序列號與預(yù)先存儲的序列號列表進(jìn)行比對，當(dāng)序列號列表中存在第二序列號與第一序列號匹配時(shí)，確定當(dāng)前的芯片為目標(biāo)芯片；當(dāng)序列號列表中不存在第二序列號與第一序列號匹配時(shí)，向測試機(jī)發(fā)送斷電指令，以使測試機(jī)將測試主板斷電并取下當(dāng)前的芯片。本發(fā)明提供的芯片挑選方法，能夠在不進(jìn)入操作系統(tǒng)的情況下，通過聯(lián)合測試工作組接口讀取第一序列號，并將第一序列號與序列號列表中進(jìn)行比對，從而能夠節(jié)省挑選時(shí)長，提高效率。