一種提升光時(shí)域反射儀事件盲區(qū)性能的方法及應(yīng)用
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010480656.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111740775A | 公開（公告）日 | 2020-10-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111740775A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-02 |
| 分類號(hào) | H04B10/071(2013.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 王雅;趙立忠;陳文浩;湯崢宇;王濤;王猛 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海光維通信技術(shù)股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上?？剖⒅R(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 浙江光維通信技術(shù)有限公司;上海光維通信技術(shù)股份有限公司 |
| 地址 | 314400浙江省嘉興市海寧市海寧經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)海寧大道8號(hào)6幢1-4層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種提升光時(shí)域反射儀事件盲區(qū)性能的方法及應(yīng)用，所述方法包括以下步驟：1)在正常條件下利用光時(shí)域反射儀進(jìn)行測(cè)試獲得第一曲線，基于所述第一曲線判斷反射峰是否飽和；2)在反射峰存在飽和時(shí)減少光能量，再次利用光時(shí)域反射儀進(jìn)行測(cè)試獲得第二曲線；3)拼接所述第一曲線和第二曲線獲得光時(shí)域反射儀的最終測(cè)試曲線。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有在保證一定動(dòng)態(tài)范圍的前提下減小盲區(qū)等優(yōu)點(diǎn)。?? |
