一種堆疊態(tài)半導(dǎo)體芯片結(jié)構(gòu)及其工藝方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202010978208.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112038221A | 公開(公告)日 | 2020-12-04 |
| 申請公布號 | CN112038221A | 申請公布日 | 2020-12-04 |
| 分類號 | H01L21/205;H01L21/02;H01L21/3213 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 涂波;鄭香奕 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市潔簡達(dá)創(chuàng)新科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣東合方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 深圳市潔簡達(dá)創(chuàng)新科技有限公司 |
| 地址 | 518109 廣東省深圳市龍華區(qū)龍華街道清湖社區(qū)清湖村富安娜公司B棟601 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種堆疊態(tài)半導(dǎo)體芯片結(jié)構(gòu)及其工藝方法,本發(fā)明堆疊態(tài)半導(dǎo)體芯片結(jié)構(gòu),包括基板,在基板上依次堆疊設(shè)置P型半導(dǎo)體層和N型半導(dǎo)體層,P型半導(dǎo)體層和N型半導(dǎo)體層相間設(shè)置,P型半導(dǎo)體層至少為2層,N型半導(dǎo)體層至少為2層。本發(fā)明通過化學(xué)氣相沉積法來堆疊形成P型半導(dǎo)體層和N型半導(dǎo)體層,并且采用物理刻蝕和電漿清洗的方式形成導(dǎo)電層,避免使用掩膜、光阻劑、光刻機(jī)來制造半導(dǎo)體芯片,降低了半導(dǎo)體芯片工藝復(fù)雜性,提高了半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品的良率。 |





