背面有凹坑的磷化銦晶片、制法和制備其的腐蝕液

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710612344.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN109290875A 公開(kāi)(公告)日 2021-06-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN109290875A 申請(qǐng)公布日 2021-06-22
分類(lèi)號(hào) B24B7/22;B24B37/10;C30B33/10;C30B29/40 分類(lèi) 磨削;拋光;
發(fā)明人 王留剛;李海淼;朱頌義 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 北京通美晶體技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京北翔知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王媛;鐘守期
地址 101113 北京市通州區(qū)工業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)東二街四號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種{100}磷化銦(InP)晶片,其背面分布有凹坑,其中背面凹坑的突起的最大維度為65微米,凹坑的最大深度為6.0微米。本發(fā)明還涉及該{100}磷化銦(InP)晶片的制備方法以及制備該{100}磷化銦(InP)晶片的腐蝕液。本發(fā)明的{100}磷化銦(InP)晶片背面分布有凹坑,在外延生長(zhǎng)中受熱均勻,應(yīng)用效果好。