一種電路板、X射線探測器及檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011298645.X 申請日 -
公開（公告）號 CN112415564A 公開（公告）日 2021-02-26
申請公布號 CN112415564A 申請公布日 2021-02-26
分類號 G01T1/208(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李博;王洪波;劉強 申請（專利權(quán)）人 同源微（北京）半導體技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京正理專利代理有限公司 代理人 付生輝
地址 100094北京市海淀區(qū)豐豪東路9號院中關(guān)村集成電路設(shè)計園2-4-902
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請的一個實施例公開了一種電路板、X射線探測器及檢測方法，該電路板包括：第一電路區(qū)、第二電路區(qū)、第三電路區(qū)和第四電路區(qū)，其中，第一電路區(qū)用于電連接光電二極管陣列芯片；第二電路區(qū)包括貫穿于所述第一電路區(qū)和第三電路區(qū)的導通孔，用于實現(xiàn)第一電路區(qū)與第三電路區(qū)的電連接導通；第三電路區(qū)包括焊盤部和安裝部，其中，所述焊盤部用于連接電荷電流處理芯片，所述安裝部用于連接探測器支架；第四電路區(qū)用于連接探測器連接器，以使得探測器連接器將所述電荷電流處理芯片的信號輸出至數(shù)據(jù)采集處理裝置。本申請針所述技術(shù)方案降低了X射線對電路板的損傷，通過構(gòu)造新的探測器結(jié)構(gòu)，減少了工藝步驟，降低了成本，提高了產(chǎn)品的可靠性。??