芯片量產(chǎn)測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711279899.5 申請日 -
公開（公告）號 CN107831428B 公開（公告）日 2020-08-07
申請公布號 CN107831428B 申請公布日 2020-08-07
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫浩濤;田軍;賈紅;程顯志;陳維新;韋嶔 申請（專利權(quán)）人 西安智多晶微電子有限公司
代理機構(gòu) 西安嘉思特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉長春
地址 710075 陜西省西安市高新區(qū)科技二路72號西岳閣102室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種芯片量產(chǎn)測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)包括測試機110；第一處理器120，電連接至所述測試機110，用于接收所述測試機110的控制指令，根據(jù)所述控制指令配置待測芯片并將配置結(jié)果發(fā)送至所述測試機110；第二處理器130，電連接至所述第一處理器120，用于根據(jù)所述第一處理器120發(fā)送的測試激勵文件測試所述待測芯片。本發(fā)明提供的測試系統(tǒng)，通過測試機、第一處理器以及第二處理器配合完成不同的測試向量，在低端測試平臺上就可以完成復(fù)雜芯片的量產(chǎn)測試，節(jié)約了芯片量產(chǎn)測試成本，極大縮短了測試程序開發(fā)時間，在線調(diào)試比較方便。