一種芯片測試用探針和芯片測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110231417.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN113009196A 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號(hào) CN113009196A 申請公布日 2021-06-22
分類號(hào) G01R1/067;G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顧培東;蔣衛(wèi)兵 申請（專利權(quán)）人 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 胡彬
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)龍東大道3000號(hào)5號(hào)樓302室-5325
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片測試用探針和芯片測試裝置，芯片測試用探針包括探針保持體，設(shè)置在插座殼體中，于所述探針保持體的一端開設(shè)有安裝孔；第一彈簧，所述第一彈簧穿設(shè)在所述安裝孔中，所述第一彈簧的一端與所述安裝孔的底面抵接；探針針頭，一端穿設(shè)在所述安裝孔中，且與所述第一彈簧的另一端抵接，所述探針針頭的另一端相對所述插座殼體上的探針孔伸出，所述探針針頭能夠沿所述安裝孔的軸向往復(fù)移動(dòng)；第二彈簧，套設(shè)在所述探針保持體上，且一端能夠與所述探針保持體抵接，另一端與所述插座殼體抵接。本發(fā)明夠保證探針保持體與插座殼體穩(wěn)定接觸，從而滿足測試要求。