一種老化測試座及老化測試裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202020448153.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212008835U | 公開（公告）日 | 2020-11-24 |
| 申請公布號 | CN212008835U | 申請公布日 | 2020-11-24 |
| 分類號 | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 季廣華;王堅 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司 |
| 地址 | 201203上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)龍東大道3000號5號樓302室-5325 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種老化測試座及老化測試裝置。該老化測試座包括：底座機構(gòu)；壓接機構(gòu)，其設(shè)置于底座機構(gòu)上，壓接機構(gòu)被配置為承載待測試工件并能夠分別電連接于待測試工件和PCB板；翻蓋機構(gòu)，翻蓋機構(gòu)轉(zhuǎn)動設(shè)置于底座機構(gòu)上并與其可拆卸連接；壓頭機構(gòu)，其轉(zhuǎn)動設(shè)置于翻蓋機構(gòu)上并能夠抵接于待測試工件的頂面，壓頭機構(gòu)被配置為相對于待測試工件的位置可調(diào)，使得壓頭機構(gòu)的底面和待測試工件的頂面相互平行設(shè)置。該老化測試座的壓頭機構(gòu)可以根據(jù)待測試工件的位置進(jìn)行自我位置調(diào)節(jié)，以達(dá)到適應(yīng)待測試工件的目的，避免出現(xiàn)壓頭機構(gòu)在測試過程中損傷待測試工件的情況，保證了成品質(zhì)量。?? |
