一種芯片測試電路、裝置及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011613846.4 申請日 -
公開（公告）號 CN112748326A 公開（公告）日 2021-05-04
申請公布號 CN112748326A 申請公布日 2021-05-04
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顧培東;王波 申請（專利權(quán)）人 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司
代理機構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)龍東大道3000號5號樓302室-5325
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片測試電路、裝置及系統(tǒng)。該芯片測試電路包括：高頻信號測試模塊，高頻信號測試模塊與芯片組成回路；第一低頻信號測試模塊、第二低頻信號測試模塊、第三低頻信號測試模塊和第四低頻信號測試模塊分別與芯片和低頻信號測試器件電連接，第一低頻信號測試模塊、第二低頻信號測試模塊、第三低頻信號測試模塊和第四低頻信號測試模塊的電路結(jié)構(gòu)相同，均包括電阻或者錐形電感。本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案，在同時傳輸高頻測試信號和低頻測試信號的基礎(chǔ)上，提高了芯片測試電路可以傳輸?shù)母哳l測試信號的頻率。